1Tb HDD外部USB 3.0ドライブにはいくつかの問題があります。間違った方法でフォーマットしました。 /dev/sdb1の代わりに/dev/sdbを書きましたが、今すぐドライブを使用できなくなりました。
fdisk /dev/sdb
fdisk: unable to read /dev/sdb: Input/output error
先週の土曜日に、ddコマンドを使用してゼロとしてsdbデバイスに書き込みました。今日のプロセスは完了しました(私の2番目のコンピュータでこのコマンドを1週間実行しました)。ところで、ddについて興味深い点を見つけました。 count = 1に設定すると、次のようになります。
bs=512 - Input/Output error
bs=1024 - Input/Output error
bs=4096 - Okay!
しかし、私がしたことは何も効果がありませんでした。 sfdiskはまた、IOエラーがあると述べた。
HDDはSATAに接続されており、USBアダプタは必要ありません。
私は何をしましたか...
- gpartedを使用してすべてのパーティションを削除しました。
- 新しいパーティションテーブルを作成しましたが、gpartedがクラッシュしました。
- fdiskを使用してパーティションを再作成しました。
- 私の頭の中で何が起こり、ddを使ってデバイスをゼロで埋めることにしました。
- ddを起動してプロセスを完了するのに数日かかるかどうかを計算するときは、Ctrl + Cを押してください。
ddがすべてのディスクと他の多くのディスクを埋めるのを待って、sfdiskを使ってみました。
dmesgが言った:
[573000.557900] Buffer I/O error on device sdb, logical block 244187588
[573000.558550] lost page write due to I/O error on sdb
smartctl -a /dev/sdb:
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-95-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Seagate Momentus SpinPoint M8 (AF)
Device Model: ST1000LM024 HN-M101MBB
Serial Number: S318J9DG719286
LU WWN Device Id: 5 0004cf 21029e6dc
Firmware Version: 2BA30001
User Capacity: 1,000,204,886,016 bytes [1.00 TB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Rotation Rate: 5400 rpm
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 6
SATA Version is: SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is: Sat Sep 10 13:39:04 2016 MSK
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 23) The self-test routine was aborted by
the host.
Total time to complete Offline
data collection: (12480) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 208) minutes.
SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 051 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0026 252 252 000 Old_age Always - 0
3 Spin_Up_Time 0x0023 090 089 025 Pre-fail Always - 3246
4 Start_Stop_Count 0x0032 089 089 000 Old_age Always - 11227
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 252 252 051 Old_age Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4289
10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 19
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 247
191 G-Sense_Error_Rate 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 80
192 Power-Off_Retract_Count 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 48
194 Temperature_Celsius 0x0002 064 054 000 Old_age Always - 26 (Min/Max 16/46)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x002a 100 100 000 Old_age Always - 1241
223 Load_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 19
225 Load_Cycle_Count 0x0032 079 079 000 Old_age Always - 221164
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Aborted by host 70% 427 -
# 2 Short offline Completed without error 00% 330 -
# 3 Short offline Completed without error 00% 162 -
# 4 Short offline Completed without error 00% 52 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Aborted_by_host [70% left] (0-65535)
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
答え1
4kセクタに書き込むことができ、HDDが正常に動作している場合、これはおそらくこれがデフォルトの4k HDD(時々高度なフォーマット)、512バイトセクタをシミュレートできません。このようなドライブは見たことがありません。私が使用したすべてのドライブは512セクタをエミュレートできますが、ソートされていないアクセスのために少し遅いです。
dd if=/dev/sdb of=/dev/null bs=1m
HDDが読み取りを開始し、すぐに停止しないことを確認する必要があります(1m
4kの倍数)。コマンドが正しく実行されると、dd
4kドライブのようです。これらのHDDにアクセスするには、4Kセクターアクセスを調整するためのツールが必要です。
答え2
一見すると、ディスクが死んだようです(または最初から欠陥がある可能性があります)。パーティションを分割する代わりにデバイスをフォーマットすると、これはできません。デバイスに損傷を与えずに何度もこれが起こりました(データとは異なり... :)
同様のディスクである2TBの外部USB3 Seagateがありますが、比較のためにsmartctl出力を公開します。今では拡張されたセルフテストを実行しましょう(gui GSmartControlまたはsmartctlを使用しています。時間がかかりました。私は運転に約6時間かかりました。
root@fubuntu:~# smartctl -a /dev/sdc |tee sdc-smartctl-`ds`.log
smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.4.0-36-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Seagate Samsung SpinPoint M9T
Device Model: ST2000LM003 HN-M201RAD
Serial Number: S34RJ9FG538619
LU WWN Device Id: 5 0004cf 20fceabd1
Firmware Version: 2BC10008
User Capacity: 2 000 398 934 016 bytes [2,00 TB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Rotation Rate: 5400 rpm
Form Factor: 2.5 inches
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 6
SATA Version is: SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is: Sat Sep 10 15:17:41 2016 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (24480) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 408) minutes.
SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 051 Pre-fail Always - 0
2 Throughput_Performance 0x0026 056 056 000 Old_age Always - 22251(vs.0)
3 Spin_Up_Time 0x0023 088 087 025 Pre-fail Always - 3875
4 Start_Stop_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 326(vs 11227!)
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 252 252 051 Old_age Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 414
10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 87
191 G-Sense_Error_Rate 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 31
192 Power-Off_Retract_Count 0x0022 252 252 000 Old_age Always - 0 (aka unclean shutdown, yours 48 for just 247 total power cycles.
194 Temperature_Celsius 0x0002 064 049 000 Old_age Always - 23 (Min/Max 15/51)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x002a 100 100 000 Old_age Always - 6 (vs 1241)
223 Load_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 2 (vs 19)
225 Load_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 3879 (vs 221164!)
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed without error 00% 398 - Do the extended offline test.
# 2 Short offline Completed without error 00% 383 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Completed [00% left] (0-65535)
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
IMHO これはハードウェアエラーです。ディスクはすでに完了していますが、とにかく拡張オフラインセルフテストを実行します。まだ保証期間が残っていますか?